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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測(cè)厚儀 有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。

FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測(cè)量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。

德國(guó)菲希爾鍍層測(cè)厚儀xdv-μ-pcb XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)星和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡, 光斑直徑（ FWHM ）可達(dá)10至60μm。

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菲希爾涂層非接觸X射線測(cè)厚儀 菲希爾涂層非接觸 X 射線測(cè)厚儀基于 X 射線與物質(zhì)的相互作用原理。當(dāng) X 射線照射到被測(cè)物體表面時(shí)，一部分 X 射線會(huì)被涂層吸收和散射，另一部分則會(huì)穿透涂層到達(dá)基體。通過測(cè)量穿透涂層的 X 射線強(qiáng)度，并與已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行對(duì)比，就可以精確計(jì)算出涂層的厚度。

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